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全球首發(fā)晶振系列六面外觀檢查設(shè)備
時間：2023-07-25 16:10:19 人氣：

2023年7月25日我司首臺出貨轉(zhuǎn)塔式六面外觀檢查設(shè)備，主要用于實現(xiàn)芯片器件六個面的外觀缺陷檢查，包含人工及普通視覺難以識別的隱裂等缺陷，并實現(xiàn)器件根據(jù)不良類型分類入料盒/料管/托盤/編帶等。

操作運動控制基于上位機開發(fā)；設(shè)備支持GPIB/TTL/RS232通訊；設(shè)備具有SECSGEM通訊功能

圖像具備深度學(xué)習(xí)功能，通過生成過程中的不斷學(xué)習(xí)升級提高準確率；具備吸嘴自動校高功能，權(quán)限等級管控。



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